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課程名稱 |
光學干涉與薄膜
Interference and Thin Film |
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開課學期 |
101-2 |
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授課對象 |
電機資訊學院 光電工程學研究所 |
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授課教師 |
王 倫 |
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課號 |
OE5003 |
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課程識別碼 |
941 U0080 |
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班次 |
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學分 |
3 |
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全/半年 |
半年 |
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必/選修 |
選修 |
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上課時間 |
星期五2,3,4(9:10~12:10) |
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上課地點 |
電二102 |
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備註 |
總人數上限：25人 |
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Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/1012thinfilm |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
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課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
OPTICAL THIN FILMS
• quarter-wave film stacks
• theoretical treatment of thin film
--normal incidence, oblique incidence, admittance diagram
• anti-reflection(AR)and high-reflection(HR) coatings
• narrow band filter
• practical considerations
• applications in light sources, display and communication
OPTICAL INTERFEROMETRY
• basic concepts
--polarization, waves at an interface, coherence
• historical interferometers
--division of wave front, division of amplitude, multiple beam interference
• common interferometers and their applications
--Twyman-Green interferometer, Fizeau interferometer, Sagnac interferometer…
--Analysis of fringes
--practical considerations in using interferometers
SPECIAL TOPICS: fiber sensors based on interferometry
-- Fiber Gratings
-- Evanescently Coupled Fiber Components
-- Other Fiber Sensors
-- Applications |
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課程目標 |
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課程要求 |
成績評量: 期中考(30%)、期末考與期末報告(50%)、與平時作業(20%)
四. 預修課程:無
註:歡迎高年級大學生及碩博士生選修，旁聽需經授課教師同意 |
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
另約時間 |
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指定閱讀 |
教科書+class notes:
“Thin Film Optical Filters”, by MacLeod, McGraw-Hill, 1990.
“Basics of Interferometry”, by P. Hariharan, Boston Academic Press, 1992.
"Fundamentals of Photonics", by B.E.A. Saleh & M.C. Teich, Wiley, 1991.
Reference books + journals
"Optical Fiber Sensors," edited by John Dakin and Brian Culshaw, Vol. I, II, III IV, by Artech House, 1988, 1989, 1996, 1999. |
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參考書目 |
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評量方式
(僅供參考) |
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No. |
項目 |
百分比 |
說明 |
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1. |
期中考 |
30% |
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2. |
期末考&期末報告 |
50% |
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3. |
作業 |
20% |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
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第1週 |
2/22 |
Introduction and Quarterwave Rule |
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第2週 |
3/01 |
Quarterwave film stacks and thin film theory |
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第3週 |
3/08 |
in class exercises and review |
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第4週 |
3/15 |
vector method (approximation)for AR coating |
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第5週 |
3/22 |
Characteristic Matrix and Admittance Diagram |
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第9週 |
4/19 |
期中考 |
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第10週 |
4/26 |
High Reflection Coating and Symmetrical Layers |
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第11週 |
5/03 |
narrowband filter and multiple beam interference |
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第12週 |
5/10 |
Interferometry 1 |
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第13週 |
5/17 |
Interferometry 1 |
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第14週 |
5/24 |
Interferometry 1 |
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第15週 |
5/31 |
Interferometry 1 |
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第17週 |
6/14 |
期末報告 |
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第18週 |
6/21 |
期末考 |
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